Сканирующая электронная микроскопия (scanning electron microscopy, SEM) - Метод анализа поверхностной структуры микрообъекта путем анализа отраженного «электронного изображения» (как правило, при специальном напылении и с применением лиофилизации объекта, что позволяет повышать его электронную плотность и предотвращать деформации клеточных и др. структур).