ТУННЕЛЬНАЯ
СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ, метод
исследования структуры пов-сти твердых тел, позволяющий четко визуализировать
на ней взаимное расположение отдельных атомов; основана на туннельном эффекте.
В туннельном сканирующем
микроскопе система пьезокри-сталлов, управляемая компьютером, обеспечивает трехкоор-динатное
перемещение металлич. зонда на расстоянии порядка 0,1 HM от исследуемой пов-сти.
Между ней и зондом прикладывают напряжение ок. 1 В и регистрируют возникающий
туннельный ток. Компьютер управляет вертикальным перемещением зонда так, чтобы
ток поддерживался на заданном постоянном уровне, и горизонтальными перемещениями
по осям c и у (сканированием). Воспроизводимое на дисплее
семейство кривых, отвечающих перемещениям зонда, является изображением эквипотенциальной
пов-сти, поэтому атомы изображаются полусферами разл. радиусов. Достоинства
метода: сверхвысокое разрешение (атомного порядка, 10-2 нм); возможность
размещать образец не в вакууме (как в электронных микроскопах), а в обычной
воздушной среде при атм. давлении, в атмосфере инертного газа и даже в жидкости,
что особенно важно для изучения гелеобразных и макромол. структур (белков, ДНК,
РНК, вирусов) в нативном состоянии.
По принципу синтеза изображений
(с помощью электронных сканирующих систем) и диапазону объектов анализа данный
метод тесно смыкается с электронной микроскопией.
Лит.: "Nature",
1990, v. 346, № 6281, 19 July, p. 294-96.
А. Г. Богданов.