Сканирующая электронная микроскопия (scanning electron microscopy, SEM)

Сканирующая электронная микроскопия (scanning electron microscopy, SEM) - Метод анализа поверхностной структуры микрообъекта путем анализа отраженного «электронного изображения» (как правило, при специальном напылении и с применением лиофилизации объекта, что позволяет повышать его электронную плотность и предотвращать деформации клеточных и др. структур).

Комментарии*

Дополнения к описанию:

  • Принцип работы: основан на сканировании поверхности образца сфокусированным пучком электронов высоких энергий (обычно 0.5-30 кэВ)
  • Детекторы: регистрируют вторичные электроны (отображают топографию), обратнорассеянные электроны (показывают контраст по атомному номеру) и характеристическое рентгеновское излучение (элементный анализ)
  • Разрешение: современные приборы достигают разрешения 1 нм и менее
  • Применение:
    • Материаловедение: исследование структуры металлов, полимеров, композитов
    • Биология: изучение ультраструктуры клеток, тканей, микроорганизмов
    • Нанотехнологии: характеристика наноматериалов и наноструктур
    • Криминалистика: анализ следов и вещественных доказательств
  • Преимущества: большая глубина резкости, трехмерное изображение, возможность элементного анализа
*Подобраны с помощью LLM, верифицированы, но возможны неточности.
Ещё по теме
Электронная микроскопия — основы и применение
Туннельная сканирующая микроскопия — принцип работы и преимущества метода
Микрокристаллоскопия — метод качественного анализа
Микрокристаллоскопия — метод качественного микрохимического анализа
Электронография — метод исследования атомной структуры кристаллов
Электрогравиметрия — электрохимический метод анализа
Сенсибилизация фотографических материалов
Дефектоскопия — методы и виды
Фотоэлектронная спектроскопия — основы и применение
Всё о фотографических материалах — виды, характеристики и применение
Репрография — основные методы и технологии копирования
Молекулярная оптическая спектроскопия — основы и применение
Оптическая сенсибилизация фотоматериалов
Спектрофотометрия — основы и применение в химии