Сканирующая электронная микроскопия (scanning electron microscopy, SEM) — это метод анализа поверхностной структуры микрообъекта, основанный на получении и анализе отражённого «электронного изображения». Для повышения качества изображения и сохранения структуры образца при сканировании применяются специальные методы подготовки образца.
Одним из ключевых этапов подготовки образца для сканирующей электронной микроскопии является напыление тонкого слоя металла или другого проводящего материала на поверхность образца. Это позволяет улучшить контрастность изображения и сделать его более чётким.
Ещё одним важным этапом подготовки образца является лиофилизация, или сушка в условиях вакуума. Этот процесс позволяет сохранить структуру образца и предотвратить его деформацию во время сканирования.
Сканирующая электронная микроскопия широко используется в биохимии и молекулярной биологии для изучения структуры клеток, тканей и микроорганизмов. С её помощью можно получить детальные изображения поверхности образцов, что позволяет исследовать их морфологию и выявлять особенности строения.
Список использованной научной литературы: