Растровая микроскопия, также известная как сканирующая электронная микроскопия (СЭМ), представляет собой метод визуализации поверхностей образцов на атомном или молекулярном уровне с помощью электронного пучка. В этом процессе электронный луч сканирует поверхность образца, взаимодействуя с атомами и молекулами, что приводит к эмиссии вторичных электронов, которые затем улавливаются детектором. Полученная информация обрабатывается компьютером, что позволяет создать детальное изображение поверхности образца.
Растровая микроскопия широко используется в биохимии и биологии для изучения структуры клеток, тканей и микроорганизмов. С её помощью можно наблюдать морфологические особенности, определять состав и распределение элементов на поверхности образцов. Этот метод особенно полезен при исследовании наноструктур и биологических макромолекул.
Преимущества растровой микроскопии включают высокое разрешение, возможность получения трёхмерных изображений и способность анализировать состав образца через энергодисперсионную рентгеновскую спектроскопию (EDS). Однако стоит отметить, что процесс подготовки образца для исследования может потребовать определённых навыков и времени.
Список использованной научной литературы: